Caractérisation des matériaux nanostructurés et des catalyseurs.
Les installations de caractérisation des matériaux offrent des services d’analyse et ouvrent leurs portes à 10 groupes de recherche des facultés des sciences, de génie et de médecine ainsi qu’à des clients externes de l’industrie et de laboratoires nationaux. La possibilité de caractériser de nouveaux matériaux avec un éventail d’instruments à la fine pointe de la technologie est sans contredit un avantage unique pour les utilisateurs affiliés à l’Université d’Ottawa.
Microscopie électronique (microscopie électronique à balayage [MEB], microscopie électronique à transmission [MET] et cryo-MET) avec analyse élémentaire et spectroscopie de pertes d’énergie d’électrons ainsi qu’instruments connexes de préparation d’échantillons, Microscopie à force atomique avec interfaçage de spectroscopie Raman, Spectroscopie de photoélectrons XPS avec spectroscopie de masse des ions secondaires (SIMS) et spectroscopie de photoélectrons UV (UPS), analyse thermique avec spectrométrie de masse (SM) et détection infrarouge (IR), analyse des surfaces et des porosités, analyse granulométrique et électrochimie
- Industrie chimique
- Technologies propres
- Éducation
- Énergie
- Technologies et services de l’environnement
- Foresterie et industrie forestière
- Sciences de la vie, produits pharmaceutiques et équipement médical
- Fabrication et transformation
- Mines, minerais et métaux
Laboratoires et équipements spécialisés
|
Laboratoire spécialisé |
Équipement |
Fonction |
|---|---|---|
|
Installations de microscopie électronique |
Microscope électronique à transmission par émission de champ JEM-2100F et microscope électronique à balayage à émission de champ JSM-7500F (JEOL) |
Imagerie de matériaux nanostructurés haute résolution |
|
|
Microscope électronique à transmission FEI, adaptée à la cryo-MET, à la tomographie et à la microscopie électronique à corrélation par fluorescence |
Imagerie haute résolution de matériaux meubles et de spécimens biologiques |
|
|
Matériel de préparation d’échantillons, dont polisseur ionique de précision, système de nettoyage à plasma, système de revêtement par pulvérisation, ultramicrotome, ultracentrifugeuse, four à dépression et système d’usinage ionique |
Préparation d’échantillons pour la microscopie électronique |
|
|
Microscope Raman interfacé avec un microscope-sonde à balayage adapté à la spectroscopie Raman exaltée de surface et à la cartographie |
Identification et cartographie des structures chimiques |
|
|
Microscope à force atomique |
Analyse de l’état de la surface |
|
Installations d’analyse des surfaces |
Spectromètre de photoélectrons XPS |
Caractérisation de la surface des particules, notamment avec des analyses élémentaires et la détermination du degré d’oxydation des métaux |
|
|
Porosimètre et profilomètre |
Détermination de l’état de la surface et de la porosité des solides |
|
Installations d’analyse thermique |
Calorimètre différentiel à balayage et analyseur thermogravimétrique équipé de spectromètres de masse et infrarouge |
Évaluation des propriétés thermiques de solides et détection des gaz émis lors de leur décomposition |
|
Installations de caractérisation des matériaux |
Analyseur du potentiel zêta des particules |
Détermination de la taille des particules par la diffusion de lumière |
|
|
Analyseur électrochimique |
Utilisé pour un large éventail d’essais électrochimiques |