Recherche minéralogique axée sur la valorisation, la concentration physique et les procédés métallurgiques pour optimiser la récupération des métaux et évaluer les effets sur l’environnement
CanmetMINES détient une vaste expertise dans le domaine de la minéralogie appliquée, ce qui comprend la caractérisation détaillée de matières solides à tous les stades de récupération des métaux (minerais, concentrés, résidus, précipités, déchets). Ses laboratoires sont axés sur la meilleure compréhension des mécanismes régissant certains procédés par la conception d’expériences contrôlées jumelées à des méthodes intégrées de caractérisation.
CanmetMINES offre une expertise unique et une vaste gamme de services spécialisés et de recherche à ses clients. Le Bureau des affaires peut créer différents types de partenariats afin de combler les besoins particuliers du client et d’appuyer les priorités de Ressources naturelles Canada et du gouvernement canadien. Les ententes de coopération et celles relatives au recouvrement des coûts sont parmi les accords les plus souvent conclus. En plus de mener des recherches fondamentales et appliquées, des démonstrations et des essais, nous fournissons des lignes directrices sur la propriété intellectuelle, la licenciation et les stratégies de commercialisation afin de faciliter le transfert de technologie.
- Technologies propres
- Énergie
- Technologies et services de l’environnement
- Mines, minerais et métaux
Laboratoires et équipements spécialisés
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Équipement |
Fonction |
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Dispositif intégré d’analyse de minéraux de TESCAN (TIMA) |
Instrument automatisé de minéralogie servant à l’analyse de quantités de minéraux, à la libération de minéraux et aux associations minérales ainsi qu’à la recherche automatisée de minéraux lourds |
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Appareil de microdiffraction de rayons X D/Max Rapid II de Rigaku |
Détermination de structures cristallines à une résolution spatiale allant jusqu’à 30 µm |
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Microscope analytique de microfluorescence X (XRF) XGT-7200 de Horiba |
Analyse de transmission et par microfluorescence X de matières solides et liquides à une résolution spatiale allant jusqu’à 50 µm |
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Microanalyseur rayons X à microsonde électronique (EPMA) JXA‑8230 de JEOL |
Analyse de substances chimiques distinctes et cartographie des éléments à une résolution spatiale jusqu’à l’échelle micrométrique et à des seuils de détection se situant entre des dizaines et des centaines de ppm |
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Système de polissage et de revêtement à large faisceau d’argon PECS II |
Préparation d’échantillons intacts et de haute qualité par broyage et polissage d’ions et la sédimentation de matières à l’échelle subnanométrique |
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Système de fragmentation par impulsions à haute tension de SELFRAG |
Fragmentation sélective de matériaux par impulsions à haute tension (100 à 200 kV) à des fréquences de 1 à 5 Hz |