L’installation utilise de puissants microscopes et des instruments auxiliaires pour créer les images de la meilleure résolution possible et poser des diagnostics à partir de spécimens.
L’installation utilise de puissants microscopes et des instruments auxiliaires pour créer les images de la meilleure résolution possible et poser des diagnostics à partir de spécimens.L’Advanced Microscopy Facility offre un soutien aux chercheurs travaillant dans une foule de domaines, notamment le développement de piles à combustible, la croissance de cristaux de protéines, les sciences des matériaux, la biologie, la neurobiologie, l’optoélectronique, la médecine et la pharmacologie. L’établissement se spécialise en holographie électronique, en microscopie électronique à haute résolution et en microscopie électronique analytique. La pièce maîtresse de l’installation est le STEHM, le microscope holographique électronique à transmission et à balayage, qui est le microscope le plus puissant à être fabriqué à ce jour. Grâce au STEHM, les chercheurs seront en mesure de prendre des images à haute résolution de l’ordre du picomètre – 1 000 fois plus petit que la nanotechnologie. Ce microscope électronique de prochaine génération permet aux chercheurs de mesurer, de cartographier et de manipuler des atomes. Plus de 100 chercheurs peuvent travailler dans l’établissement, et ce, en collaboration.
- Microscopie électronique à transmission
- Microscopie électronique à transmission et à balayage
- Analytique, holographie, faisceaux d’électrons à vortex
- Tomographie à 360 degrés
- Microscopie électronique à cryotransmission
- Gravure ionique focalisée
- Nettoyage de surface par plasma
- Soins de santé et services sociaux
Laboratoires et équipements spécialisés
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Équipement |
Fonction |
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Microscope STEHM HF-3300V de Hitachi |
Imagerie à haute résolution de spécimens jusqu’à l’ordre du pico. Spectroscopie de pertes d’énergie (EELS) et filtre d’imagerie Gatan (GIF) pour analyse. Spectrométrie de rayons X à dispersion d’énergie pour l’analyse aux rayons X. Holographie pour l’analyse des matériaux. Tomographie par diffraction. Faisceaux d’électrons à vortex. |
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Appareil de microscopie électronique à balayage (MEB) par émission électronique de champ S-4800 de Hitachi |
Microscope électronique à balayage à haute résolution (1 nm), spectrométrie de rayons X à dispersion d’énergie pour l’analyse aux rayons, détecteur d’électrons rétrodiffusés. |
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Appareil à faisceau ionique focalisé (FIB) FB-2100 de Hitachi |
Système de faisceau ionique focalisé d’une résolution de 6 nm pour couper des matériaux en vue de leur analyse au microscope électronique à balayage ou au microscope électronique à transmission. Il peut souder des éléments et couper les matériaux les plus durs. |
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Graveur ionique 1010 de Fischione |
Pour nettoyer et amincir les surfaces des matériaux passés dans le faisceau ionique focalisé; système de gravure et de polissage de précision pour créer des spécimens de qualité. |
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Nettoyeur au plasma 1020 de Fischione |
Pour enlever les hydrocarbures et les contaminants des surfaces. |
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Coucheuse à carbone 208C de Cressington |
Pour enduire les matériaux d’une couche conductrice de carbone avant de les passer au faisceau ionique focalisé ou au microscope électronique à balayage. |
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Coucheuse à pulvérisation cathodique Hummer IV d’Anatech |
Pour enduire les matériaux d’une couche conductrice d’or ou de palladium avant de les passer au faisceau ionique focalisé ou au microscope électronique à balayage. |
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Imprimante tridimensionnelle Form 1 |
Pour un prototypage rapide. |
Partenaires de recherche des secteurs privé et public
- Hitachi High Technologies Canada
- CEOS (Corrected Electron Optical Systems)
Information additionnelle
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Titre |
Hyperlien |
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CTV News segment on STEHM |
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Vancouver Sun article: World's most powerful microscope |
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Short movie on STEHM and Dr. Rodney Herring |