Analyse de matériaux conducteurs et semi-conducteurs d’une grande pureté à l’état de traces et d’ultratraces.
Certifiée par le Conseil canadien des normes, l’installation de spectrométrie de masse à décharge luminescente (SMDL) du Centre de recherche en métrologie, au Conseil national de recherches du Canada, respecte les exigences très rigoureuses de la norme ISO/IEC 17025. Reconnue pour son travail ininterrompu et ses perfectionnements constants depuis plus de trente ans, l’installation excelle dans l’analyse des solides conducteurs et semi-conducteurs. Elle dessert fièrement ses clients du Canada et de l’étranger en effectuant l’analyse spectrométrique de masse des substances inorganiques et en leur procurant en temps opportun des résultats d’une précision digne d’un laboratoire national de métrologie de calibre mondial adhérant à la norme ISO/IEC 17025.
Le pilier des travaux au sein de l’installation consiste en une équipe de scientifiques chevronnés d’une rare compétence, qui excellent dans l’application de la SMDL à des matériaux complexes ou inédits. L’installation de spectrométrie de masse à décharge luminescente s’est mérité une renommée internationale, en particulier grâce à sa capacité d’analyser les impuretés d’une proportion allant du pour cent à quelques sous-parties par milliard. La SMDL permet d’analyser directement les solides, rendant superflues les techniques classiques d’analyse qui nécessitent la dissolution de l’échantillon. Les méthodes employées à l’installation ont été validées pour une cinquantaine de matrices, dont celle de dix-neuf (19) minéraux critiques identifiés au Canada.
Services proposés par l’installation SMDL :
- Jusqu’à 60 éléments au seuil de détection standard : dix balayages le long du spectre des éléments à identifier, soit assez pour en déterminer la présence dans la majorité des échantillons.
- Jusqu’à 60 éléments à un seuil de détection plus élevé : on relève le seuil de détection en procédant à des balayages supplémentaires le long du spectre des éléments à identifier. Un seuil de détection supérieur est recommandé pour les échantillons d’une très grande pureté (6N ou plus).
- Jusqu’à 30 éléments à un seuil de détection plus élevé : on relève le seuil de détection en procédant à des balayages supplémentaires le long du spectre des éléments à identifier. Un seuil de détection supérieur est recommandé pour les échantillons d’une très grande pureté (6N ou plus).
- Analyse sur demande (y compris des échantillons sous forme de poudre).
- Aérospatial et satellites
- Industrie chimique
- Technologies propres
- Défense et industrie de la sécurité
- Énergie
- Technologies et services de l’environnement
- Soins de santé et services sociaux
- Fabrication et transformation
- Mines, minerais et métaux
- Transport
Laboratoires et équipements spécialisés
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Laboratoire spécialisé |
Équipement |
Fonction |
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Laboratoire de caractérisation des matériaux |
Spectromètre de masse à décharge luminescente VG 9000 de Thermo Fisher Scientific (2) |
Analyse des impuretés élémentaires. |
Information additionnelle
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Titre |
Hyperlien |
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Portée d’accréditation du Conseil canadien des normes. |