Microscopie en champ proche avec capacités avancées et microscopie optique avancée des matériaux avec capacités spectroscopiques.
Caractérisation des sciences des matériaux par des technique de spectroscopie et de microscopie UV-visible-proche infrarouge, des techniques de spectroscopie et de microscopie par fluorescence, de même que la microscopie à force atomique pour des mesures à des températures variables et des mesures électrochimiques.
Analyse de matériaux pour topographie, variations locales de conductivité, changements de phase en fonction de la température, et multiples spectroscopies des matériaux
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Laboratoires et équipements spécialisés
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Laboratoire spécialisé |
Équipement |
Fonction |
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Microscopie en champ proche |
Microscope à force atomique |
Prise d’images topographiques, mesures de la force latérale, changements de phases en fonction de la température, mesures électrochimiques localisées, mesures de la force d’adhérence, mode contact intermittent, mode contact, couplé à l’imagerie optique des échantillons, microscopie capacitive à balayage et mesures en champ magnétique variable. |
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Microscopie optique et spectroscopie |
Microscope optique couplé à un spectromètre |
Imagerie par réflexion et par transmission, microscopie par fluorescence, par contraste interférentiel différentiel, en champ sombre, en champ clair, à lumière polarisée, spectroscopie UV-visible-NIR en mode réflexion, empilement de mises au point, intégration d’image pour en faire des images composites de grandes zones, analyse de particules et de joints de grains. |
Information additionnelle
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Titre |
Hyperlien |
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Groupe de recherche Gates |
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4D Labs à SFU |